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JX-JS型介质损耗测试仪

更新时间:2024-06-10

产品型号:

简要描述:

JX-JS型介质损耗测试仪与西林电容电桥相比,具有操作简单、自动测量、读数直观、无须换算、精度高、抗干扰能力强等优点。仪器内附标准电容器和升电压装置,在“内接"方式下使用,无须其他外接设备,便于携带。

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JX-JS型介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容量(Cx)的自动化仪器。可以在功频高电压下,现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容量(Cx)。与西林电容电桥相比,具有操作简单、自动测量、读数直观、无须换算、精度高、抗干扰能力强等优点。仪器内附标准电容器和升电压装置,在“内接”方式下使用,无须其他外接设备,便于携带。
 (1)具有多种测量方式,可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电源进行测量,正接线可测量高压介损。
 (2)内附SF6标准电容器,tgδ<0.005%,受空气湿度影响小。
 (3)矢量运算法结合移相、倒相法、抗干扰效果好;能有效的消除强烈的电场干扰对测量的影响,运用500kv及其以下电站的强干扰现场试验。
 (4)高压短路和突然断电时,仪器能迅速切断高压,并发出警告信息。
 (5)测量重复性好,电压线性好(测量准确度不受高压影响)。
 (6)一体化结构,重量适中,便于携带。
 (7)夜晶显示、汉字操作、测试过程全部自动化,有误操作保护功能。
 (8)仪器自带打印机,及时保存测试数据,
 (9)  高压电缆连接至试品,保证安全,仪器未接地报警,安全措施完备。

JX-JS型介质损耗测试仪技术指标
功耗:不大于40VA 
测量范围
介质损耗(tgδ):0~1    分辨率:0.0001
电容量(CX):                 zui小分辨率:0.01pF
内接方式
试验电压                             试品电容量
5KV   7.5KV   10KV                   3PF~60000PF
1.5KV   2.25KV   3KV                  10PF~0.35UF
0.5KV   0.75KV   1KV                  30PF~1.5UF
外接方式
    “ 外接升压器”方式zui高试验电压10KV
 “ 外接CN”方式(外接高压、外接标准电容器)zui高试验电压由标准电容器和被试品决定(Umax=Imax/wC)
 标准回路zui大电流50mA(In=UwCn)
 被测回路zui大电流2A(Ix=UwCn)
 

基本测量误差
 产品在环境温度20℃±5℃、相对湿度:30%~85%的条件下,应符合表1之规定。
 
 
测量内容 tgδ范围 电容量范围(Cx) 试品类型 基本误差
介质损耗 

因数
tgδ 0~0.5 50PF~60000PF 非接地 ±(1%读数+0.0005)
   接地 ±(1%读数+0.0010)
  10PF~50PF或60000PF以上 非接地 ±(1%读数+0.0010)
   接地 ±(2%读数+0.0005)
  3PF~10PF 非接地
与接地 
  50PF以上  ±(1%读数+1PF)
电容量  50PF以下  ±(1%读数+2PF)

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